Une Journée « injection de fautes : attaques physiques, protections logicielles et mécanismes d’évaluation de la robustesse » a été organisée le 29 mai à Jussieu.
Une soixantaine d’experts académiques, représentants d’agences gouvernementales (ANSSI, DGA, Ministère de la Défense) et acteurs industriels étaient présents.
Cet évènement était associé au GT Sécurité des Systèmes Matériels commun au GDR SoC2 et au GDR Sécurité Informatique. Cette journée avait pour objectif de réunir la communauté de la recherche française en analyse de fautes sur des systèmes de sécurité. Plusieurs aspects ont été abordés lors de ce séminaire : attaques en injection de fautes et modèles de fautes, simulation / méthodes formelles pour comprendre l’impact des fautes, preuve de sécurité, contremesures…
L’IRT Nanoelec était présent à cette journée et a présenté les travaux conduits dans le projet CLAPS du programme PULSE.