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Participation de l’IRT Nanoelec aux Journées de la Société Française de l’Evaluation

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Les journées de la SFE ont généré une forte mobilisation sur deux journées, avec une grande diversité de thèmes allant de l’articulation entre le travail des acteurs à l’analyse évaluative en passant par l’innovation : « évaluer, évoluer, innover » ; « innover dans les pratiques de l’évaluation »… . Un focus particulier a été fait sur les mutations, les transformations et les réformes nécessaires. La conférence plénière d’ouverture, le 18 juin, avait pour ambition de répondre à la question suivante « jusqu’où l’évaluation peut transformer l’action publique ? ». Une réflexion d’autant plus importante dans un contexte ou l’évaluation est reconnue d’utilité publique en France et à travers le monde : 2015 étant l’année internationale de l’évaluation. L’IRT Nanoelec a engagé dès 2013 une réflexion sur le mesure de l’impact socio-économique de son activité, encouragée par ses financeurs CGI et ANR, et accompagné par plusieurs de ses homologues IRT. Le groupe projet constitué comprend, outre la direction de l’IRT, Grenoble Ecole de Management, Cabinet Millenium, Eurolio. La première étape a consisté à réaliser un état de l’art, choisir un outil méthodologique, le tester en renseignant des indicateurs sur 2012 et 2013. Les premiers résultats sont encourageant, leur présentation aux différentes parties prenantes nous conduit d’une part à poursuivre l’étude, d’autre part à communiquer sur les avancées : il a donc été décidé de participer aux journées de la Société Française d’Evaluation http://www.sfe-asso.fr/ à Montpellier les 18 et 19 juin pour présenter la démarche, recueillir des critiques constructives, positionner l’étude par rapport aux dernières avancées du domaine. Un poster sera présenté, ainsi qu’une conférence organisée dans le cadre de ces journées. Pour tout renseignement bruno.rague@cea.fr http://www.sfemontpellier2015.fr/présentations/posters/ ... Lire la suite »

La plate-forme de caractérisation avancée participera à Semicon Europa 2015

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Mardi 6 Octobre 2015, la Plateforme de Caractérisation Avancée Nanoelec (NACP) organise un Panel d’experts qui aura lieu à Dresde (Allemagne). Ce Panel est adressé aux experts en micro et nanoélectronique, caractérisation, substrats et processus. Il sera accueilli par l’événement SEMICON 2015. L’objectif de ce panel sera de favoriser les discussions sur les tendances futures… Lire la suite » ... Lire la suite »

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